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TSI 3086型DMA差分静电迁移分析仪

发布日期:2018-05-25

简要描述:

TSI 3086型DMA差分静电迁移分析仪
该3086型1nm-DMA差分静电迁移分析仪一般和TSI 3082型静电分级器 、 3777型纳米增强仪 以及凝聚粒子计数器 配套使用,且该分析仪工作流程已经被优化,不但能够将散逸损失降至Z低,而且能够提高1nm到50nm颗粒物的粒径测量的粒径分辨率。

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TSI 3086型DMA差分静电迁移分析仪
该3086型1nm-DMA差分静电迁移分析仪一般和TSI 3082型静电分级器 、 3777型纳米增强仪 以及凝聚粒子计数器 配套使用,且该分析仪工作流程已经被优化,不但能够将散逸损失降至zui低,而且能够提高1nm到50nm颗粒物的粒径测量的粒径分辨率。

特点和优势

分析从1到50nm粒径的颗粒物

SMPS(扫描电迁移粒径谱仪)的关键组件 

应用 

颗粒物粒径测量

设计与TSI的3082型静电分级器和TSI的3777型纳米增强剂CPC一起使用,3086型1nm-DMA具有优化的流路,可减少扩散损失并提高粒径范围在1至50 nm范围内的尺寸分辨率。
特点和优点
分析从1到50纳米的粒子
SMPS系统的关键组件
应用
粒子尺寸

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